Skip to main content

Welkom bij Scalda & Bohn Stafleu van Loghum

Scalda heeft ervoor gezorgd dat je Mijn BSL eenvoudig en snel kunt raadplegen.Je kunt de producten hieronder links aanschaffen en rechts inloggen.

Registreer

Schaf de BSL Academy aan: 

BSL Academy mbo AG

Eenmaal aangeschaft kun je thuis, of waar ook ter wereld toegang krijgen tot Mijn BSL.

Heb je een vraag, neem dan contact op met Jan van der Velden.

Login

Als u al geregistreerd bent, hoeft u alleen maar in te loggen om onbeperkt toegang te krijgen tot Mijn BSL.

Top
Gepubliceerd in:

01-06-2016 | De promotie

Dosisverlaging bij orthodontische röntgenfoto’s

Alleen belichten wat nodig is voor de diagnostiek

Auteur: Bohn Stafleu van Loghum

Gepubliceerd in: Tandartspraktijk | Uitgave 5/2016

Log in om toegang te krijgen
share
DELEN

Deel dit onderdeel of sectie (kopieer de link)

  • Optie A:
    Klik op de rechtermuisknop op de link en selecteer de optie “linkadres kopiëren”
  • Optie B:
    Deel de link per e-mail

Samenvatting

Om een orthodontisch behandelplan te maken worden röntgenfoto’s gemaakt. Dit gaat gepaard met een stralingsdosis voor de patiënt. De gemiddeld jonge orthodontiepatiënten zijn gevoeliger voor de negatieve effecten van straling. Omdat een hoog percentage van de kinderen een beugel krijgt, worden er in totaal veel opnamen gemaakt. Samen vormen deze een aanzienlijke dosis. Zo levert dit per individu lage risico bij elkaar opgeteld een reëel risico voor de bevolking. Reinier Hoogeveen (ACTA) heeft met zijn onderzoek aangetoond dat door bepaalde gebieden af te schermen het mogelijk is de dosis fors te verlagen bij de laterale schedelopname. Dit onderzoek resulteerde in twee in de praktijk toepasbare hulpmiddelen.
Metagegevens
Titel
Dosisverlaging bij orthodontische röntgenfoto’s
Alleen belichten wat nodig is voor de diagnostiek
Auteur
Bohn Stafleu van Loghum
Publicatiedatum
01-06-2016
Uitgeverij
Bohn Stafleu van Loghum
Gepubliceerd in
Tandartspraktijk / Uitgave 5/2016
Print ISSN: 0167-1685
Elektronisch ISSN: 1875-6808
DOI
https://doi.org/10.1007/s12496-016-0063-6