Skip to main content

Welkom bij Scalda & Bohn Stafleu van Loghum

Scalda heeft ervoor gezorgd dat je Mijn BSL eenvoudig en snel kunt raadplegen.Je kunt de producten hieronder links aanschaffen en rechts inloggen.

Registreer

Schaf de BSL Academy aan: 

BSL Academy mbo AG

Eenmaal aangeschaft kun je thuis, of waar ook ter wereld toegang krijgen tot Mijn BSL.

Heb je een vraag, neem dan contact op met Jan van der Velden.

Login

Als u al geregistreerd bent, hoeft u alleen maar in te loggen om onbeperkt toegang te krijgen tot Mijn BSL.

Top

Journal of Child and Family Studies

Uitgave 5/2007

Inhoudsopgave (12 Artikelen)

Is there a Relationship between Family Structure and Substance Use among Public Middle School Students?

  • Original Paper

Raheem J. Paxton, Robert F. Valois, J. Wanzer Drane

Foster Parents’ Involvement in Authoritative Parenting and Interest in Future Parenting Training

  • Original Paper

Keith A. King, Linda K. Kraemer, Amy L. Bernard, Rebecca A. Vidourek

Mental Health Screening of Female Juvenile Offenders: Replication of a Subtyping Strategy

  • Original Paper

Keith R. Cruise, Monica A. Marsee, Danielle M. Dandreaux, Debra K. DePrato

Family Strain and Adolescent Delinquency in Two Chinese Cities, Guangzhou and Hong Kong

  • Original Paper

Chau-Kiu Cheung, Ngan-Pun Ngai, Steven Sek-Yum Ngai

Parenting Cognitions Associated with the Use of Psychological Control

  • Original Paper

Bobbi R. Walling, Rosemary S. L. Mills, Wendy S. Freeman

A Review of Childrearing in African American Single Mother Families: The Relevance of a Coparenting Framework

  • Original Paper

Deborah J. Jones, Alecia A. Zalot, Sarah E. Foster, Emma Sterrett, Charlene Chester

Clinician Perspectives of Diagnosis and Perceived Client Change in “Real World” Psychotherapy for Youth Emotional and Behavioral Disorders

  • Original Paper

Rachel A. Haine, Lauren Brookman-Frazee, Katherine H. Tsai, Scott C. Roesch, Ann F. Garland

Validity of Treatment Target Progress Ratings as Indicators of Youth Improvement

  • Original Paper

Brad J. Nakamura, Eric L. Daleiden, Charles W. Mueller