Skip to main content

Welkom bij Scalda & Bohn Stafleu van Loghum

Scalda heeft ervoor gezorgd dat je Mijn BSL eenvoudig en snel kunt raadplegen.Je kunt de producten hieronder links aanschaffen en rechts inloggen.

Registreer

Schaf de BSL Academy aan: 

BSL Academy mbo AG

Eenmaal aangeschaft kun je thuis, of waar ook ter wereld toegang krijgen tot Mijn BSL.

Heb je een vraag, neem dan contact op met Jan van der Velden.

Login

Als u al geregistreerd bent, hoeft u alleen maar in te loggen om onbeperkt toegang te krijgen tot Mijn BSL.

Top
Gepubliceerd in:

01-01-2007 | Artikel

Schizofrenie en verwante psychosen I: beloop, etiologie, diagnostiek en beleid

Auteurs: Dr. C. J. Slooff, M. J. T. Oud, H. E. Luijten, dr. F. K. Withaar

Gepubliceerd in: Bijblijven | Uitgave 1/2007

Log in om toegang te krijgen
share
DELEN

Deel dit onderdeel of sectie (kopieer de link)

  • Optie A:
    Klik op de rechtermuisknop op de link en selecteer de optie “linkadres kopiëren”
  • Optie B:
    Deel de link per e-mail

Samenvatting

Schizofrenie en verwante psychosen zijn het best te beschrijven als aandoeningen van het zenuwstelsel. De behandeling is complex en wordt door verschillende beroepsbeoefenaren uitgevoerd. De psychiater, de huisarts, de psycholoog, de (sociaal-)psychiatrisch verpleegkundige en allerlei ondersteunende medewerkers, zoals psychomotorische, creatieve en arbeidstherapeuten en geestelijk verzorgenden, hebben een rol in de begeleiding, behandeling en rehabilitatie. Ook juristen leveren een aandeel, wanneer er een conflict ontstaat met de patiënt over noodzakelijke zorg in diens eigen belang. Duidelijk is dat alle betrokkenen de handen ineen moeten slaan met het oog op het belang van de patiënt en diens familie.
Metagegevens
Titel
Schizofrenie en verwante psychosen I: beloop, etiologie, diagnostiek en beleid
Auteurs
Dr. C. J. Slooff
M. J. T. Oud
H. E. Luijten
dr. F. K. Withaar
Publicatiedatum
01-01-2007
Uitgeverij
Bohn Stafleu van Loghum
Gepubliceerd in
Bijblijven / Uitgave 1/2007
Print ISSN: 0168-9428
Elektronisch ISSN: 1876-4916
DOI
https://doi.org/10.1007/BF03087535